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芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱

簡要描述:芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

  • 產品型號:DR-H306
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-07-13
  • 訪  問  量:729

詳細介紹

芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱簡介:

      蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。老化箱整體由SUS #304 不銹鋼制成,操作設定簡易,微電腦數(shù)位LED控制,具有時間設定功能,多重超溫保護、缺水切斷電熱等安全裝置。

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芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱用途:

適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

蒸汽老化試驗箱控制系統(tǒng):

微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示,PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器(PT-100),解析度0.1℃,全自動安全保護裝置。

蒸汽老化試驗機技術規(guī)格參數(shù):

內部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm;

外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm;

蒸屜尺寸:300×120×60(L*W*H mm)   三個

內外箱體材質:SUS304#優(yōu)質不銹鋼板;

保溫層:巖棉

升溫時間:大約40分鐘;控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示;

溫控器:采用CHB401智能溫度控制器。成熟耐用。

溫度范圍:RT-98℃

控制精度:±0.5℃

溫度均勻度:≤2℃

計時功能:1~9999分鐘,附時到報警功能,時間到達后切斷電源;

水位控制:自動補水,缺水斷電功能以防干燒。

電熱管:采用304不銹鋼發(fā)熱管.

電源:AC 220V±10% 50Hz  3.0KW

滿足標準:

符合軍規(guī)MTL-STP-208F,202






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